Leeb452 表面粗糙度儀 表面光潔度儀 無錫粗糙度測試儀測量工件表面粗糙度時，將傳感器放在工件被測表面上，由儀器內部的驅動機構帶動傳感器沿被測表面做等速滑行，傳感器通過內置的銳利觸針感受被測表面的粗糙度，此時工件被測表面的粗糙度引起觸針產生位移，該位移使傳感器電感線圈的電感量發生變化，從而在相敏整流器的輸出端產生與被測表面粗糙度成比例的模擬信號，該信號經過放大及電平轉換之后進入數據采集系統
Leeb431表面粗糙度儀 光潔度儀 無錫粗糙度計傳感器通過內置的銳利觸針感受被測表面的粗糙度，此時工件被測表面的粗糙度引起觸針產生位移，該位移使傳感器電感線圈的電感量發生變化，從而在相敏整流器的輸出端產生與被測表面粗糙度成比例的模擬信號，該信號經過放大及電平轉換之后進入數據采集系統。
Leeb430數顯表面粗糙度儀 光潔度儀 粗糙度計輸出端產生與被測表面粗糙度成比例的模擬信號，該信號經過放大及電平轉換之后進入數據采集系統
leeb451粗糙度儀表面 表面光潔度儀 粗糙度測試儀 測量范圍 Ra:0.05-10.0µm；Rz:0.1-50µm
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